Verified
来源、主体与时间与首次落库记录一致。
| 文章 | Workload-Driven HBF Substrate For Capacity-Scalable LLM Inference (Huawei, ETH Zurich, HUST) |
| 信任等级 | Aggregate |
| 发布主体 | — |
| 来源 | https://semiengineering.com/workload-driven-hbf-substrate-for-capacity-scalable-llm-inference-huawei-eth-zurich-hust/ |
| 创建时间 | Tuesday, 1 September 2026 - 01:30 |
| 已记录哈希 | ddc38eb03a2df0ae7d6a083061617594421b8cc7700044ddd04c00ba421f4a73 |
| 重算哈希 | ddc38eb03a2df0ae7d6a083061617594421b8cc7700044ddd04c00ba421f4a73 |
哈希算法:sha256(来源URL|主体ID|创建时间戳),主体缺失时主体ID为 0。